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测试点属于**可测试性设计(DFT)方案**,能够简化PCB测试工序,方便研发阶段验证电路板电气性能;PCB预留测试点,可优化后端量产的各项制程。
PCB测试点是贴片电路板上供测试探针接触的小型金属触点/焊环。生产时,通过测试点可输入测试信号、采集线路电气参数。测试点拥有多种材质、规格与表面镀层。测试点为探针预留接触区域:老式带直插引脚的电路板常用J型钩针探针,测试点可供钩针挂接;尖头探针则直接压接在测试点导体面上。绝大多数贴片式测试点基材为磷青铜,也有性价比更高的镀银选型。
1. **低矮贴装高度**对比柱状端子、接线柱等其他探针连接方式,测试点贴装高度更低,适配超薄外壳结构;外形高度和贴片元器件接近,通用性更强。2. **节约工时与生产成本**在设计前期借助测试点排查连通性故障,避免问题流转到后段组装环节。若前期缺少测试,不良问题到成品阶段才暴露,返修成本、复测工时都会大幅增加。3. **故障排查便捷**测试点简化探针测试作业,可在不改动原有PCB设计的前提下完成各项电气参数测量,快速定位隐患。
1. **布设板面**:尽量把所有测试点集中布置在电路板同一面,简化测试、节省制造成本。2. **最小中心间距**:测试点中心间距建议≥0.100英寸,保障探针顺利下针、提升测试良率。3. **均匀分散布局**:测试点均匀排布整板,便于多探针同步批量测试。4. **高器件分区摆放**:板上高度偏高的元器件集中规划在固定区域,防止遮挡周边测试点位。5. **预留制程公差**:PCB初版布局时预留加工公差,保证测试阶段探针可顺利接触所有测试点。